产品介绍
T1040
FLIR T1K红外热像仪专为需要最高质量而不妥协的热成像专家而设计。 全高清分辨率，卓越的热灵敏度以及专为HDIR探测器设计的FLIR专用光学器件，T1K大幅提高了工作效率。
• 1024 x 768 红外分辨率 (多达786,432个测温点)
• 0.02˚C@30 ˚C热灵敏度
• 8倍连续数字缩放
• 温度段可至+2000 ˚C
• 可选配各种广角和远摄镜头
• 文字、草图及直绘注释
• 视频录像及定期存储功能
• 实时于热像仪内生成报告
• 新增UltraMax™技术强化分辨率至2048 x 1536
| 热像仪性能 | |
| 探测器类型 / 响应波长 | 非制冷微热量型焦平面探测器 / 7.5-14 μm |
| 红外解析度 | 1024 x 768 像素 |
| 热灵敏度 | <0.02°C @ +30°C (+86°F) / 50mK |
| 视场角 / 最短聚焦距离 | 28° x 21° / 0.4m (1.31 ft.) |
| 空间分辨率 | 0.47 mrad |
| 聚焦模式 | 自动或手动 |
| 缩放 | 1 - 8x, 数码缩放 |
| 温度范围 | -40°C to +150°C (-40°F to +302°F), 0°C to +650°C (+212°F to +1202°F), +300℃ ~ +2000℃ (+572℉ ~ + 3632℉) |
| 精度 | ±2°C (±3.6°F) 或 ±读数2% |
| 点测温 | 10 |
| 区域测温 | 5 个方框区域，包括最大值 / 最小值/ 平均值 |
| 自动冷热点追踪 | 区域或缐内的最高 / 最低温度值及位置 |
| 等温缐 | 检测高 / 低温及温度区间 |
| 发射率校正 | 可调范围为0.01~1.00，或可以从材料清单中选择 |
| 测量校正 | 反射温度、光学穿透率和大气穿透率 |